基于TDR技术的HDMI高速差分总线特性阻抗的测量

• 作者: 刘蕊
• 来源期刊: 电子测试
• 关键词: TDR 特性阻抗 HDMI
• 年，卷（期）: 2020,（7）
• 所属期刊栏目: 测试工具与解决方案
• 页码范围: 98-99,132
• 页数: 3页
• 字数: 1602字
• 语种: 中文

摘要

高清多媒体接口(HDMI)技术正在迅猛的增长,传输速率也越来越快,遇到的高速连接的挑战也越来越大.通过时域反射(TDR)技术对HDMI的高速差分总线进行特性阻抗测量,可以直接的测量和显示印刷电路板(PCB)走线以及连接器和线缆的阻抗连续性能,对于诊断和分析HDMI系统高速连接的可靠性和稳定性起到非常重要的作用.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	刘蕊	北京信息职业技术学院电子与自动化学院	12	11	2.0	3.0