基于背景分离与亮度校正的苹果表面缺陷提取

• 作者: 王朝轩 王银敏 真昕欣 费树岷 马雪婷
• 来源期刊: 软件导刊
• 学科: 工学
• 关键词: 缺陷提取 背景分离 亮度校正 阈值分割
• 年，卷（期）: 2020,（8）
• 所属期刊栏目: 图形图像处理
• 页码范围: 234-238
• 页数: 5页
• 分类号: TP317.4
• 字数: 3375字
• 语种: 中文
• DOI: 10.11907/rjdk.192663

摘要

苹果是我国年产量最高的水果,但出口量不足总产量的2%,采用基于图像处理的水果表面缺陷检测技术可促进水果的分级与销售.以红富士苹果为研究对象,首先采集苹果的 RGB图像,并根据转换公式得到图像的HSV彩色模型,对饱和度S分量进行阈值分割与孔洞填充,获得苹果背景分离模板;然后根据背景分离模板得到 R分量的背景分离图,并对分离背景后的 R分量进行亮度校正;最后采用单阈值分割法提取缺陷.实验共采集300个苹果样本,包括缺陷果200个,正常果100个,其中对缺陷果的识别率达到96.5%,对正常果的识别率达到100%.实验结果表明,采用S分量获取背景分离模板,并结合亮度校正算法,可在不增加额外拍摄装置的情况下获得较好的缺陷提取效果.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	费树岷	东南大学自动化学院	367	3210	27.0	37.0
2	王银敏	东南大学自动化学院	1	0	0.0	0.0
3	真昕欣	东南大学自动化学院	1	0	0.0	0.0
4	马雪婷	东南大学自动化学院	1	0	0.0	0.0
5	王朝轩	东南大学自动化学院	1	0	0.0	0.0