199D系列钽电容器典型缺陷模式及检测方法研究

• 作者: 王宇 任建波 李泱 顾崟 张湃
• 来源期刊: 集成电路应用
• 关键词: 电子器件 199D系列钽电容器 典型缺陷模式 检测方法
• 年，卷（期）: 2020,（7）
• 所属期刊栏目: 研究与设计|Research and Design
• 页码范围: 22-24
• 页数: 3页
• 分类号: TN406
• 语种: 中文
• DOI: 10.19339/j.issn.1674-2583.2020.07.007

摘要

基于199D系列钽电容器是一种引线式固体坦电解电容器,在工作中主要起到滤波的作用,广泛应用于航天领域中.为保障199D系列钽电容器的可靠使用,对该系列钽电容器的结构特点和使用失效情况进行分析,梳理和总结出典型的缺陷模式.根据得到的缺陷模式,设计新的检测方法进行试验,最终验证新的检测方法更能有效检测出199D系列钽电容器的潜在缺陷.