基于量子跃迁概率的绝缘子表面流注放电能量计算方法

• 作者: 曹培 王恒 艾建勇 金立军 高凯
• 来源期刊: 电工技术学报
• 学科: 工学
• 关键词: 绝缘子 流注放电 量子跃迁概率 能量计算
• 年，卷（期）: 2020,（17）
• 所属期刊栏目: 高电压与绝缘
• 页码范围: 3750-3757
• 页数: 8页
• 分类号: TM85
• 语种: 中文
• DOI: 10.19595/j.cnki.1000-6753.tces.191053

摘要

绝缘子表面放电过程能量交换形式复杂,难以准确计算,绝缘子表面污闪尚未有准确的检测方法.为深入分析绝缘子表面放电过程,探索放电检测新方法,该文通过流注击穿理论和量子跃迁能量概率结合,研究绝缘子表面放电过程能量变化特征.从微观粒子能级的角度分析能量的输入与输出形式,结合流注理论对绝缘子临界击穿场强进行计算;将量子跃迁概率等效为统计意义下的比例,结合能级跃迁和微粒化学成分,从电离和跃迁的角度,提出放电能量的理论估算新方法.通过多组实验发现,理论估算的体系能量变化约为实测值的70％～80％,能在一定程度上定量描述污秽绝缘子表面流注放电体系的能量变化.