IGBT模块PIN针失效风险改善研究

• 作者: 李启国 林川川 程胭脂 陈琛
• 来源期刊: 机电工程技术
• 学科: 工学
• 关键词: IGBT 开槽设计 选择性波峰焊接 可靠性
• 年，卷（期）: 2020,（11）
• 所属期刊栏目: 诊断与改进
• 页码范围: 265-267
• 页数: 3页
• 分类号: TN322.8
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1009-9492.2020.11.083

摘要

对电动汽车常用Hybrid PACKTM Drive封装IGBT模块与驱动PCB装配后PIN针存在失效风险的改善措施进行了研究.分析了PIN针的受力情况及失效原因,提出一种新的PCB开槽方案,通过仿真分析不同PCB开槽设计对PIN针动态受力的影响,论证了该方案的有效性.并对选择性波峰焊工艺参数进行优化,改善了PIN针受力情况.试验结果证明提出的改善方法能够显著提高IGBT模块与PCB装配的可靠性.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	陈琛		2	0	0.0	0.0
2	程胭脂		1	0	0.0	0.0
3	林川川		1	0	0.0	0.0
4	李启国		1	0	0.0	0.0