提高自动测试设备ATE测试板的设计效率

• 作者: 陶雪芬
• 来源期刊: 集成电路应用
• 关键词: 集成电路测试 自动测试 定式模板
• 年，卷（期）: 2020,（7）
• 所属期刊栏目: 工艺与制造|Process and Fabrication
• 页码范围: 42-44
• 页数: 3页
• 分类号: TN407|TN406
• 语种: 中文
• DOI: 10.19339/j.issn.1674-2583.2020.07.013

摘要

基于对IC做ATE量产测试是对每一颗IC检测和判断功能是否达到设计要求的重要标准,也是IC从设计到生产再到上市整个过程中的一个重要环节.为了提高设计效率和质量,阐述工程师需要了解ATE测试的基本原理和结构,并运用各种工具,总结贯通,建立定式模板,以达到提高效率与质量的目的.