微波组件自动测试系统研制

• 作者: 刘俊杰 李富国 魏德宝 乔立岩
• 来源期刊: 电子测量技术
• 关键词: 微波组件 自动测试系统 转接设备 FPGA
• 年，卷（期）: 2020,（18）
• 所属期刊栏目: 测试系统与模块化组件|Test System and Modular Components
• 页码范围: 162-168
• 页数: 7页
• 分类号: TP2
• 语种: 中文
• DOI: 10.19651/j.cnki.emt.2004683

摘要

随着航天雷达技术的发展,微波组件的结构、功能变得日益复杂,给相应测试工作带来困难.针对微波组件参数测试困难的问题,设计了自动测试系统,提高了测试效率和测试精度.微波组件自动测试系统是针对于多通道微波组件测试做出的创新,通过微波测试转接机箱的设计兼容多型号微波测试组件测试,设计以FPGA为核心的数据采集及控制信号板卡完成测试组件所需控制信号输出及测试系统电源系统的实时监控.在微波组件自动测试系统中,以计算机为主控制器,将测试系统的各个部分相统一,自动测试软件的设计以及数据补偿的加入满足了测试速率、测试精度的高要求.