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摘要:
本文针对嵌入式系统的软硬件环境以及当前反走样技术的发展,依次对嵌入式图形系统和反走样技术进行阐述,结合当前研究的特点分别对图形系统中直线和三角形两种重要的处理片元的反走样技术进行研究,为嵌入式系统中图形发走样的发展提供一定的参考.
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文献信息
篇名 嵌入式系统中图形反走样基础算法研究
来源期刊 信息记录材料 学科 工学
关键词 嵌入式系统 图形系统 反走样技术 光栅化
年,卷(期) 2020,(1) 所属期刊栏目 记录:数据与存储
研究方向 页码范围 155-156
页数 2页 分类号 TP391
字数 3416字 语种 中文
DOI
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 王利祥 24 13 2.0 2.0
2 杜国真 18 25 3.0 5.0
3 朱江毅 13 18 3.0 3.0
传播情况
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引文网络
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研究主题发展历程
节点文献
嵌入式系统
图形系统
反走样技术
光栅化
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
信息记录材料
月刊
1009-5624
13-1295/TQ
大16开
河北省保定市乐凯南大街6号
18-185
1978
chi
出版文献量(篇)
9919
总下载数(次)
46
总被引数(次)
13955
论文1v1指导