一种基于JTAG的片内调试系统设计

• 作者: 姚霁
• 来源期刊: 现代电子技术
• 关键词: 片内调试系统 系统设计 JTAG 调试指令 调试流程 模式切换
• 年，卷（期）: 2020,（20）
• 所属期刊栏目: 电子与信息器件
• 页码范围: 31-33
• 页数: 3页
• 分类号: TN911-34
• 语种: 中文
• DOI: 10.16652/j.issn.1004-373x.2020.20.008

摘要

为了给芯片设计提供一种高效方便的调试方法,提出一种基于JTAG的片内调试系统.该系统包括调试系统控制模块、断点产生模块和JTAG接口.JTAG接口实现调试指令的发送与接收;断点产生模块是调试系统硬件调试的逻辑单元;调试系统控制模块则实现断点设置、单步运行、内存调试等功能.不同的调试指令可根据不同的硬件结构自动完成其各自的处理流程,而且不同的工作模式之间可以自由切换.该片内调试系统表现出了高性能,便于操作的特点,已经通过了实际的芯片测试.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	姚霁		9	27	3.0	5.0