考虑共因失效的列控中心组成单元可靠性分析

• 作者: 吴键
• 来源期刊: 电子测试
• 关键词: 列控中心 双系冗余结构 共因失效 可靠性分析
• 年，卷（期）: 2020,（17）
• 所属期刊栏目: 理论与算法
• 页码范围: 64-65,50
• 页数: 3页
• 语种: 中文

摘要

列控中心是列控系统的地面核心设备,并且组成单元具有冗余结构,组成单元的可靠性是保证列车安全运行的关键.文章分析组成单元的可靠性,首先建立双系冗余结构的动态故障树模型,然后计算各个组成单元的可靠性指标,分析共因失效对冗余结构的影响,结果表明共因失效对于组成单元的可靠性指标具有较大影响.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	吴键		2	0	0.0	0.0