基于可测试性技术的测试矩阵优化研究

• 作者: 王力 贾春宇
• 来源期刊: 现代电子技术
• 关键词: 可测试性技术 故障诊断 机载电路板 测试时间 测试成本 测试矩阵
• 年，卷（期）: 2020,（21）
• 所属期刊栏目: 电子技术及应用
• 页码范围: 137-142
• 页数: 6页
• 分类号: TN407-34|TP301.6|TP306+.3
• 语种: 中文
• DOI: 10.16652/j.issn.1004-373x.2020.21.032

摘要

可测试性技术在机载电路板中的应用使故障诊断问题得到快速发展,但是测试时间长,测试成本高.为了缩短测试时间,降低测试成本,基于MCSA算法、等权值抗误判算法、极小权值-极大相异性算法,融合改进的测试矩阵优化算法,使测试矩阵更加优化,测试向量数量减少.经实验验证,运用优化后的测试矩阵进行测试可以有效缩短测试时间,提高测试效率,降低测试成本.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	王力		45	97	6.0	7.0
2	贾春宇		4	1	1.0	1.0