X射线荧光光谱仪测定地质矿物中的金属元素研究

• 作者: 周洪 唐皓
• 来源期刊: 世界有色金属
• 学科: 化学
• 关键词: 波长色散型X射线荧光光谱仪 地质矿物 金属元素
• 年，卷（期）: 2020,（10）
• 所属期刊栏目: 综合
• 页码范围: 283-284
• 页数: 2页
• 分类号: O657
• 字数: 1643字
• 语种: 中文

摘要

由于传统测量仪器在进行地质矿物中的金属元素测定工作,没有根据金属元素含量测量的工作曲线圈定异常数值范围,因此测定结果精准度低.针对这一问题,进行波长色散型的X射线荧光光谱仪测定地质矿物中的金属元素研究.通过对地质矿物样品进行检测,确定地质矿物中的背景值与异常下限.本文采用荷兰帕纳科公司制造Axios-mAX型波长色散型的X射线荧光光谱仪一次测定地质矿物样品中Cu、Pb、Zn、Sn、W元素含量,将电感耦合等离子体光谱仪(ICP-OES)与帕纳科波长色散型的X射线荧光光谱仪所测结果进行对比分析.实验结果表明,帕纳科波长色散型的X射线荧光光谱仪测定地质矿物样品中的金属元素含量更为准确,更加适合实际生产需要.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	唐皓		2	0	0.0	0.0
2	周洪		3	0	0.0	0.0