基于弱磁信号的磁性纳米粒子质量检测方法

• 作者: 惠延波 毛志鑫 牛群峰 王莉
• 来源期刊: 电脑知识与技术:学术版
• 学科: 工学
• 关键词: 磁性纳米粒子 质量检测 弱磁检测 激励磁场 亥姆霍兹线圈
• 年，卷（期）: 2020,（14）
• 页码范围: 23-27
• 页数: 5页
• 分类号: TP391.9

摘要

为了研究磁性纳米粒子质量与磁通密度的关系,提出了一种基于弱磁信号的磁性纳米粒子质量检测方法。选择亥姆霍兹线圈作为激励源,将磁性纳米粒子溶液放入恒定磁场中,磁性纳米粒子在激励磁场的作用下产生响应磁场。为避免受到激励磁场的影响,对响应磁场的单轴分量进行测量,经过分析得出不同磁性纳米粒子质量下磁通密度的变化规律,最终得出磁性纳米粒子质量与其产生的磁通密度之间的关系函数。结果表明,随着磁性纳米粒子质量的增多,其产生的磁通密度也随之增大,两者之间呈线性正相关函数关系。