一种基于STM32的简易电路特性测试仪

• 作者: 张以凝 焦琳淇 马馨童
• 来源期刊: 数码世界
• 关键词: STM32 FPGA 混频 数字波形合成 信号采集
• 年，卷（期）: 2020,（8）
• 所属期刊栏目: IT大视野
• 页码范围: 62-63
• 页数: 2页
• 字数: 2292字
• 语种: 中文

摘要

随着电子行业的不断发展,电子元器件的使用规模以及元器件损坏的数量也日益增长,本次设计意在设计一个电路特性测试仪.可以根据用户所写程序,通过输出信号的变化,判断元器件是否损坏以及分析故障原因.本设计以STM32单片机为核心,辅助以FPGA等实现信号的频谱分析.系统主要由:本机振荡器模块,混频器模块,信号采集模块,频谱显示模块,辅助电源模块等模块组成.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	张以凝	河南大学物理与电子学院	1	0	0.0	0.0
2	马馨童	河南大学迈阿密学院	2	0	0.0	0.0
3	焦琳淇	河南大学物理与电子学院	1	0	0.0	0.0