X射线照相检测技术在精密位移传感器质量检测中的应用

• 作者: 郭斌
• 来源期刊: 科学技术创新
• 学科: 物理学
• 关键词: X射线 照相检测技术 质量检测
• 年，卷（期）: 2020,（9）
• 所属期刊栏目: 科技创新
• 页码范围: 58-59
• 页数: 2页
• 分类号: O434.19
• 字数: 3185字
• 语种: 中文

摘要

射线照相检测技术作为常规的检测方法,主要用于检测物体的内部缺陷.因其具有适用所有材料,对被检物体形状及表面粗糙度无严格要求,不损伤被检物体,以及可直观显示缺陷图像,便于对缺陷作定性、定量、定位判断,利于长期存档备查等特点,被广泛应用于航空、航天、兵器、船舶等军工领域和铁路、桥梁、管道等大型重点工业工程中.本文是基于射线照相检测技术优越的性能,对已封装的、且完成各项性能测试的精密位移传感器,观察其关键部件电刷在释放应力后,是否发生轨道偏移、脱离或变形等变化,旨在确保每个精密位移传感器都能达到设计寿命的要求.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	郭斌		2	0	0.0	0.0