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摘要:
对便携式D-D中子发生装置进行产额测试、验证及均匀性、稳定性测量,并将其用于对批量中子探测器的中子响应检测.实验结果表明:D-D中子发生装置的中子产额能够满足相关国标的要求;与252Cf中子源测试结果进行产额验证,偏差为-7.4%;D-D中子发生装置中子场的不均匀性为10%,中子产额的稳定性为7.0%;批量3 He中子探测器的检测结果表明采用D-D中子发生装置进行检测是可行的,可为中子发生装置代替同位素中子源对3 He中子探测器检测提供技术参考.
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文献信息
篇名 利用便携式D-D中子发生装置测试3He中子探测器的性能
来源期刊 核电子学与探测技术 学科
关键词 便携式D-D中子发生装置 3He中子探测器 中子响应
年,卷(期) 2021,(1) 所属期刊栏目
研究方向 页码范围 1-5
页数 5页 分类号 TL84
字数 语种 中文
DOI 10.3969/j.issn.0258-0934.2021.01.001
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研究主题发展历程
节点文献
便携式D-D中子发生装置
3He中子探测器
中子响应
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
核电子学与探测技术
双月刊
0258-0934
11-2016/TL
大16开
北京市经济技术开发区宏达南路3号
1981
chi
出版文献量(篇)
5579
总下载数(次)
9
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