椭偏法测量拓扑绝缘体的复折射率

• 作者: 陆华 李扬武 岳增记 曾为
• 来源期刊: 物理实验
• 学科: 物理学
• 关键词: 椭偏法 拓扑绝缘体 Bi2Te3 复折射率 消光系数
• 年，卷（期）: 2021,（1）
• 所属期刊栏目: 近代与综合实验
• 页码范围: 22-26
• 页数: 5页
• 分类号: O482.3
• 语种: 中文
• DOI: 10.19655/j.cnki.1005-4642.2021.01.004

摘要

采用椭偏法测量了拓扑绝缘体Bi2Te3单晶的复折射率.运用经典的德鲁德和托克-洛伦兹模型分别对拓扑绝缘体表面态和体态进行拟合,获得了其折射率和消光系数,并分析了色散曲线的变化规律.结果 表明:Bi2 T e3拓扑绝缘体的体态具有类半导体特性(含带隙),折射率在近红外波段可达7以上;表面态具有类金属特性,厚度约为2.52 nm.