利用灰度差估计的条纹非均匀性校正方法

• 作者: 徐泽林 路东明 王利平 顾国华
• 来源期刊: 光学学报
• 关键词: 成像系统 图像处理 红外焦平面阵列 灰度差估计 条纹非均匀性校正 空间特性
• 年，卷（期）: 2021,（5）
• 所属期刊栏目: 成像系统|Imaging Systems
• 页码范围: 20-26
• 页数: 7页
• 分类号: TN215
• 语种: 中文
• DOI: 10.3788/AOS202141.0511001

摘要

条纹非均匀性是红外焦平面阵列成像系统中一种较为常见的固定图案噪声,其对成像质量会产生很大的影响.通常认为图像的非均匀性主要体现在像素间的灰度差,即非均匀性所引起的灰度差.为了解决这一问题,提出一种利用灰度差估计的条纹非均匀性校正方法.该方法根据条纹噪声的空间特性,对每一帧图像的非均匀性条纹的所在位置进行判断;根据条纹位置处相邻像素间的灰度差,对该处存在的非均匀性进行初步估计,并对下一帧的估计结果进行评价以进一步完善估计值.实验结果表明,所提方法能够显著减少条纹非均匀性,并且能够有效地保护图像的边缘信息.