基于离子污染度数据分析的航空电子产品水清洗质量提升技术

• 作者: 丁诗炳 张德晓
• 来源期刊: 航空电子技术
• 关键词: 离子污染度 水清洗 Cpk值 统计过程控制
• 年，卷（期）: 2021,（1）
• 所属期刊栏目: 结构、工艺与测试|Structure,Technology and Test
• 页码范围: 52-56
• 页数: 5页
• 分类号: V262.4
• 语种: 中文
• DOI: 10.12175/j.issn.1006-141X.2021.01.10

摘要

本文应用ROSE/SEC法测试航空电子产品印制板组件(PCBA)的离子污染度,以测试结果反映水清洗效果,通过工序能力指数Cpk对工艺参数进行评价,同时运用统计过程控制(SPC)对清洗工序进行监控,实现对航空电子产品水清洗工艺清洗质量的提升.试验结果表明,降低PCBA相互遮挡面积可有效降低离子污染度.结合Xbar-S控制图监测、识别过程中可能出现的异常因素,可消除或提前预防由于异常因素引起质量问题,达到提升航空电子产品水清洗整体质量的效果.