WDXRF法测定U-Mo合金中Mo含量

• 作者: 余春荣 张连平 赵建龙 姚洪敏 王怀胜 何伟波
• 来源期刊: 核电子学与探测技术
• 关键词: U-Mo合金 波长色散X射线荧光光谱分析 Mo含量
• 年，卷（期）: 2021,（1）
• 页码范围: 68-71
• 页数: 4页
• 分类号: O657.34
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.0258-0934.2021.01.012

摘要

介绍了波长色散型X射线荧光光谱法(Wavelength Dispersive X-Ray Fluorescence,WDXRF)测定U-Mo合金中Mo含量的分析方法.本方法用HNO3溶解样品,制成滤纸片试样,采用WDXRF光谱仪测定U-Mo合金试样的Mo含量.实验结果表明:本方法适用于Mo含量为1％～6％的U-Mo合金样品的Mo含量测定;对Mo含量为2％的样品,测量结果的相对标准偏差为0.3％;Mo含量为6％的样品,测量结果的相对标准偏差为0.2％.