双环电化学动电位再活化法评价UNS N08811的晶间腐蚀敏感性

• 作者: 钟强 钱炯 周宇宾 朱建平 王宝顺 吕越 张洁洁 WANG Chun
• 来源期刊: 材料保护
• 关键词: UNS N08811 双环电化学动电位再活化法 晶间腐蚀
• 年，卷（期）: 2021,（3）
• 所属期刊栏目: 试验研究
• 页码范围: 23-27,45
• 页数: 6页
• 分类号: TG172
• 语种: 中文

摘要

目前对UNS N08811合金晶间腐蚀性能的研究较少.为此,采用双环电化学动电位再活化法(DL-EPR),表征UNS N08811合金的晶间腐蚀敏感性,研究介质成分、试验温度、扫描速率及钝化回扫电位对测试结果的影响,优选出合适的试验参数(试验介质:0.5 mol/L H2SO4+0.005 mol/L KSCN,试验温度:30℃,扫描速率:6V/h,钝化回扫电位:0.4 V).使用优化后的DL-EPR法和化学浸泡法测试不同敏化时间对UNS N08811合金晶间腐蚀敏感性的影响.结果 一致表明:随着敏化时间的延长,UNS N08811合金晶间腐蚀敏感性逐渐增大;优化后的DL-EPR法可快速定量评价UNS N08811合金的晶间腐蚀敏感性且具有良好的重现性.