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一种基于光弹调制器的应力双折射测量方法
一种基于光弹调制器的应力双折射测量方法
作者:
张伟
杨林
刘灿
基本信息来源于合作网站,原文需代理用户跳转至来源网站获取
偏振光学
双折射
光弹调制器
仪器常数
灵敏度
摘要:
介绍了一种基于光弹调制器的应力双折射测量方法,并进行了理论研究.建立了测量原理的数学模型,并根据数学模型进行了接收信号的分析,提出了相位延迟量的解算方法.该解算方法利用直流分量和一次谐波分量对相位延迟量进行解算,可消除仪器常数对测量结果的影响,并且相位延迟量在90.附近时测量灵敏度最高,对延迟量在45°~135°之间的样品测量结果可靠.利用MATLAB进行了数值仿真分析,并对理论延迟量74.17.的波片进行了测量实验,测量结果平均值为74.28°.实验结果证明测量了该方案准确可靠.
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篇名
一种基于光弹调制器的应力双折射测量方法
来源期刊
光学与光电技术
学科
关键词
偏振光学
双折射
光弹调制器
仪器常数
灵敏度
年,卷(期)
2021,(2)
所属期刊栏目
光电测量|Opto-Electronic Measurement
研究方向
页码范围
64-69
页数
6页
分类号
O436.3
字数
语种
中文
DOI
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光学与光电技术
主办单位:
华中光电技术研究所
武汉光电国家实验室
湖北省光学学会
出版周期:
双月刊
ISSN:
1672-3392
CN:
42-1696/O3
开本:
大16开
出版地:
武汉市阳光大道717号
邮发代号:
38-335
创刊时间:
2003
语种:
chi
出版文献量(篇)
2142
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9791
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