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摘要:
由于ICT(信息通信技术)快速发展,在技术经济变化指引下,通讯设备下沉成为趋势.简陋机房、楼道网络箱、室外柜代替传统机房,导致系统产品靠近终端已逐渐成为主流.在这些恶劣的环境,IP20设备特别是开孔的风冷设备在灰尘、腐蚀性气体、水汽作用下容易发生腐蚀问题,导致设备故障.同时,在含硫环境的现实条件下,提高产品的可靠性需要从系统级、产品级、元器件材料级着手控制.基于已有的失效案例,重点对胶材是否加速硫化进行研究,从定性研究和定量研究两方面得出风险等级,指导胶材应用.
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文献信息
篇名 电子组件上胶类材料应用的硫化失效分析
来源期刊 电子工艺技术 学科 工学
关键词 抗硫化电阻 有机硅胶 丙烯酸脂 聚氨酯 环氧树脂 银片 枝晶 阻值
年,卷(期) 2021,(1) 所属期刊栏目 电子组装疑难工艺问题解析
研究方向 页码范围 58-62
页数 5页 分类号 TN6
字数 语种 中文
DOI 10.14176/j.issn.1001-3474.2021.01.016
五维指标
传播情况
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研究主题发展历程
节点文献
抗硫化电阻
有机硅胶
丙烯酸脂
聚氨酯
环氧树脂
银片
枝晶
阻值
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
电子工艺技术
双月刊
1001-3474
14-1136/TN
大16开
太原市115信箱
22-52
1980
chi
出版文献量(篇)
2306
总下载数(次)
10
总被引数(次)
14508
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