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摘要:
四元InGaAsP混晶是一种理想的可用于窄禁带太阳电池制备的半导体材料.本文研究了InP衬底上InGaAsP材料在不同外延生长速度下的掺杂特性和晶体质量.通过电化学电容-电压测试法,实验发现高生长速率下InGaAsP材料的Zn掺杂的掺杂浓度与Ⅲ族源流量无关,而Si掺杂的掺杂浓度随Ⅲ族源流量增加而减少.通过瞬态荧光光谱测试方法,实验发现高生长速率下InGaAsP材料非辐射复合和界面复合占比减少,载流子输运效率得到了提升.最后,带隙组合为1.16 eV/0.88 eV的高生长速率InP基双结电池完成器件工艺后进行测试,其在AM0光照条件下开路电压为1287 mV,平均电压损失为340 mV.
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文献信息
篇名 InGaAsP快速外延生长及其在太阳电池中的应用
来源期刊 上海航天(中英文) 学科 工学
关键词 太阳电池 InGaAsP 窄带隙 高生长速率 辐射复合
年,卷(期) 2021,(1) 所属期刊栏目 专业纵论
研究方向 页码范围 136-141
页数 6页 分类号 TN911.73|TP391.9
字数 语种 中文
DOI 10.19328/j.cnki.1006-1630.2021.01.017
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研究主题发展历程
节点文献
太阳电池
InGaAsP
窄带隙
高生长速率
辐射复合
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
上海航天
双月刊
1006-1630
31-1481/V
上海元江路3888号南楼
chi
出版文献量(篇)
2265
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11928
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