HL-2M常规偏滤器位形抽气对碳杂质分布影响的模拟分析

• 作者: 周月 郑国尧 杜海龙 潘宇东 李佳鲜 薛雷 潘卫 黄文玉 薛淼 彭媛媛 曲成海
• 来源期刊: 核聚变与等离子体物理
• 关键词: SOLPS5.0 偏滤器位形 粒子控制 热负载 有效电荷量effZ
• 年，卷（期）: 2021,（2）
• 所属期刊栏目: 等离子体物理学|Plasma Physics
• 页码范围: 97-104
• 页数: 8页
• 分类号: O532+.11
• 语种: 中文
• DOI: 10.16568/j.0254-6086.202102001

摘要

在小角度V型结构的HL-2M常规偏滤器位形下,采用SOLPS 5.0程序研究了抽气速率Sp对装置粒子排除控制能力及溅射产生的碳杂质分布的影响.模拟结果表明,当进入边缘区域的能量为4MW、上游密度为n sep=3.0×10 m-3时,过高的抽气速率(大于40m3?s-1)将迅速降低靶板附近中性粒子压强和等离子体密度,并引起靶板电子温度Te的上升和表面材料溅射增强,导致有效电荷量effZ升高.在抽气速率约为20～40m3?s-1时,常规偏滤器的粒子排除效率较高.