针对安全芯片的脆弱性评估技术研究

• 作者: 韩绪仓 匡晓云 杨祎巍 黄开天
• 来源期刊: 集成电路应用
• 关键词: 安全芯片 脆弱性识别 穿透性测试 攻击潜力计算
• 年，卷（期）: 2021,（4）
• 所属期刊栏目: 研究与设计|Research and Design
• 页码范围: 4-8
• 页数: 5页
• 分类号: TN402
• 语种: 中文
• DOI: 10.19339/j.issn.1674-2583.2021.04.002

摘要

脆弱性分析AVA_VAN是通用准则中与攻击测试直接相关的组件,为攻击测试的实施提供了指导.基于对该组件进行了解读,论述了其在芯片中的应用.AVA_VAN对开发者、评估者的活动进行了明确规定,包括脆弱性识别、穿透性测试和攻击潜力计算.作为一种硬件产品,芯片对脆弱性分析的要求较高.结合芯片的安全特性,介绍对芯片进行脆弱性分析方法,并给出一些可行的分析与建议.