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摘要:
采用扫描电镜(Scanning Electron Microscope,SEM)、导电原子力显微镜(Conductive Atomic Force Microscope,CAFM)、能谱仪(Energy Dispersive Spectrometer,EDS)和纳米压痕等表征技术和方法,综合分析了130 eV氢(H)离子辐照诱导的多晶钨(W)材料的辐照损伤行为.研究表明:H离子辐照剂量从1.0×1024 ions?m?2增加到1.5×1025 ions?m?2时,W材料表面经历了H聚集成泡、在晶界处长大,并逐渐扩散至晶粒表面,直至H泡破裂导致的W表面层脱落的周期性演变过程,一个周期的演变过程所需的H离子辐照剂量约为(6.0~8.0)×1024 ions?m?2.纳米压痕的分析表明辐照后W材料的表面硬度降低,EDS也未检测到W材料表面含有C、O等杂质,这进一步验证了低能H离子辐照后W表面不稳定损伤层的演变是导致W材料刻蚀的主要原因.该工作对于进一步理解在低于溅射阈值能条件下H离子辐照诱导W材料表面刻蚀机制上具有重要参考价值.
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文献信息
篇名 氢离子辐照诱导的钨表面周期性刻蚀研究
来源期刊 核技术 学科
关键词 等离子体 氢离子辐照 氢泡 刻蚀
年,卷(期) 2021,(5) 所属期刊栏目 核物理、交叉学科研究|NUCLEAR PHYSICS, INTERDISCIPLINARY RESEARCH
研究方向 页码范围 55-61
页数 7页 分类号 TG14
字数 语种 中文
DOI 10.11889/j.0253-3219.2021.hjs.44.050501
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研究主题发展历程
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等离子体
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氢泡
刻蚀
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核技术
月刊
0253-3219
31-1342/TL
大16开
上海市800-204信箱
4-243
1978
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