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摘要:
利用金属有机化学气相沉积技术在GaAs衬底上开展了大失配InGaAs多量子阱的外延生长研究.针对InGaAs与GaAs之间较大晶格失配的问题,设计了GaAsP应变补偿层结构;通过理论模拟与实验相结合的方式,调控了GaAsP材料体系中的P组分,设计了P组分分别为0,0.128,0.184,0.257的三周期InxGa1-xAs/GaAs1-yPy多量子阱结构;通过PL、XRD、AFM测试对比发现,高势垒GaAsP材料的张应变补偿可以改善晶体质量.综合比较,在P组分为0.184时,PL波长1043.6 nm,半峰宽29.9 nm,XRD有多级卫星峰且半峰宽较小,AFM粗糙度为0.130 nm,表面形貌显示为台阶流生长模式.
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文献信息
篇名 InGaAs/GaAsP应变补偿多量子阱MOCVD生长
来源期刊 发光学报 学科
关键词 金属有机化学气相沉积 InGaAs/GaAsP 应变补偿 多量子阱 晶格失配
年,卷(期) 2021,(4) 所属期刊栏目 材料合成及性能|Synthesis and Properties of Materials
研究方向 页码范围 448-454
页数 7页 分类号 TN304.2
字数 语种 中文
DOI 10.37188/CJL.20200379
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发光学报
月刊
1000-7032
22-1116/O4
大16开
长春市东南湖大路16号
12-312
1970
chi
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