一种通用高精度存储式冲击波测试系统设计

• 作者: 刘泽鹏 苏新彦 王小亮 赵飞飞 王鹏程
• 来源期刊: 单片机与嵌入式系统应用
• 学科: 工学
• 关键词: NAND Flash 存储测试 冲击波 FPGA
• 年，卷（期）: 2021,（1）
• 所属期刊栏目: 技术纵横
• 页码范围: 54-56,75
• 页数: 4页
• 分类号: TJ410.6
• 语种: 中文

摘要

针对现有冲击波测试系统精度不足及爆炸测试后易损坏的问题,设计了一种通用式高精度存储式冲击波测试系统.首先,该系统以通用、模块化的总体设计思想,在此基础上把操作面板、传感器、采集电路、存储电路集成一体.测试系统以FPGA为主控芯片,采用ICP型压力传感器,将采集到的信号通过高精度A/D转换器进行数/模转换,并存储在NAND Flash中,待爆炸结束后将数据进行回读.最后通过减小系统体积,降低测试系统被破片击中的概率.多次试验结果表明,该系统在军工领域有较高的工程应用价值.