SRAM型FPGA散裂中子源反角白光中子单粒子试验

• 作者: 陈冬梅 谭志新 孙旭朋 底桐 白桦
• 来源期刊: 航空科学技术
• 学科: 航空航天
• 关键词: 散裂中子源 反角白光中子 FPGA 单粒子
• 年，卷（期）: 2021,（2）
• 所属期刊栏目: 工程应用
• 页码范围: 62-65
• 页数: 4页
• 分类号: V216.5
• 语种: 中文
• DOI: 10.19452/j.issn1007-5453.2021.02.009

摘要

本文利用中国散裂中子源(CSNS)反角白光中子束线开展了45nm工艺XC6SLX150、XC6SLX16两款SRAM型FPGA器件大气中子单粒子效应地面模拟试验,分析获得了器件截面数据并与之前结果进行比较.结果表明,同工艺器件中子单粒子效应截面基本一致,反角白光中子源、LANSCE散裂源及国内14MeV单能中子源单粒子试验截面基本一致,验证了反角白光中子源开展大气中子单粒子试验的可行性.