交叉性小脑神经机能联系不能的发病机制及影像学检查技术的研究进展

• 作者: 马建红 闫呈新
• 来源期刊: 老年医学研究
• 关键词: 交叉性小脑神经机能联系不能 发病机制 影像学 正电子发射断层成像 单光子发射计算机断层成像
• 年，卷（期）: 2021,（2）
• 所属期刊栏目: 综述
• 页码范围: 48-52
• 页数: 5页
• 分类号: R445.2|R741
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.2096-9058.2021.02.012

摘要

交叉性小脑神经机能联系不能(CCD)是指幕上脑组织病变导致对侧小脑半球血流及代谢减低的现象.CCD的发病机制主要与血流动力学改变、迟发性神经元死亡、卒中后全脑炎、神经传导通路的中断或抑制等方面有关.随着影像学技术的逐渐完善,关于CCD的影像学检查技术也不断更新,主要体现在单光子发射计算机断层/PET成像、CT灌注成像、磁共振灌注成像、磁共振功能成像四个方面.