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摘要:
针对热反射测温系统测温准确度验证结果不准确的问题,提出了一种热反射测温系统测温准确度的验证方法.采用以Si为衬底,利用半导体工艺制备金薄膜电阻,通过制作夹具,键合薄膜电阻与夹具的方式研制出验证电阻件.使用温控平台在30~100℃温度下对其进行温度系数考核,结果表明电阻件的阻值与温度有良好的线性关系.通过热电法计算出电阻件温度值,与热反射测温系统测量的电阻件温度值相比较,从而实现热反射测温系统测温准确度验证,保障了热反射测温系统的测温准确性.
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文献信息
篇名 热反射测温系统测温准确度验证方法研究
来源期刊 宇航计测技术 学科
关键词 热反射测温 温度监测 准确度
年,卷(期) 2021,(2) 所属期刊栏目 精密测量技术
研究方向 页码范围 43-48
页数 6页 分类号 TN911
字数 语种 中文
DOI 10.12060/j.issn.1000-7202.2021.02.08
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热反射测温
温度监测
准确度
研究起点
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引文网络交叉学科
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期刊影响力
宇航计测技术
双月刊
1000-7202
11-2052/V
大16开
北京142信箱408分箱
18-123
1981
chi
出版文献量(篇)
2113
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