X射线无损检测的GIS设备缺陷检测研究

• 作者: 何志琴 孙博 李波 樊磊 胡秀敏 高正浩
• 来源期刊: 电子设计工程
• 学科: 工学
• 关键词: X射线成像 GIS图像增强 FCM分割算法 缺陷检测
• 年，卷（期）: 2021,（1）
• 所属期刊栏目: 测量与控制
• 页码范围: 78-82
• 页数: 5页
• 分类号: TN209
• 语种: 中文
• DOI: 10.14022/j.issn1674-6236.2021.01.016

摘要

GIS设备出现缺陷会导致变电站发生事故,给电网带来巨大经济损失.针对目前变电站大规模的人工巡检存在着效率低下、易漏检等问题.文中对X射线无损检测得到的GIS设备图片进行研究.对获得的GIS图片进行恰当预处理,提出一种改进的FCM算法进行分割,在传统的FCM分割算法基础上,引入非隶属度、不确定度且结合图像的领域信息进行分割GIS设备图像,采用SVM分类器进行缺陷检测.实验表明,此方法缺陷检测率能达到90％以上.