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摘要:
针对三维阻变存储器的材料特性和器件结构,采用了一种基于CMOS 40 nm工艺的自适应读写电路,该电路具有高可靠性、低功耗以及反馈自适应的技术特点.通过多层译码结构、写入验证电路、小信号灵敏放大读出电路以及自适应控制机制,可以实现三维阻变存储器的高速低功耗的读写以及多种不同阻态的写入,从而有效解决了阻变存储器写操作过程中存在的过写入问题,大幅提高了三维阻变存储器写入和读出的成功率.根据仿真结果分析,带有反馈机制的写入电路可以实现90%以上的写入成功率.在1.1 V的工作电压下,写入功耗仅为99.752μW/bit.
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文献信息
篇名 基于CMOS 40nm工艺三维阻变存储器的自适应读写电路设计
来源期刊 电子设计工程 学科 工学
关键词 三维阻变存储器 不同阻态的写入 自适应读写电路 低功耗 高写入率
年,卷(期) 2021,(3) 所属期刊栏目 计算机技术与应用
研究方向 页码范围 1-6
页数 6页 分类号 TN432
字数 语种 中文
DOI 10.14022/j.issn1674-6236.2021.03.001
五维指标
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研究主题发展历程
节点文献
三维阻变存储器
不同阻态的写入
自适应读写电路
低功耗
高写入率
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
电子设计工程
半月刊
1674-6236
61-1477/TN
大16开
西安市高新区高新路25号瑞欣大厦10A室
52-142
1994
chi
出版文献量(篇)
14564
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54
总被引数(次)
54366
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