二维材料限域水的扫描探针技术研究进展

• 作者: 洪月 李强
• 来源期刊: 科学通报
• 关键词: 二维材料 限域水 扫描探针技术 操纵 电学掺杂 摩擦
• 年，卷（期）: 2021,（14）
• 所属期刊栏目: 评述
• 页码范围: 1689-1702
• 页数: 14页
• 语种: 中文
• DOI: 10.1360/TB-2020-1501

摘要

界面水在自然界和工业发展中无处不在,其结构以及动态性质在众多的界面反应中起着重要的作用.因此,研究固体界面上水的微观结构和动态行为对理解水-固界面上诸多奇特的物理与化学性质十分关键.二维材料限域水是近年来新兴的一类界面水研究对象,即利用超薄的二维材料作为覆盖层,以扫描探针显微镜(scanning probe microscopy,SPM)技术对基底上的水分子进行表征,突破了长期以来SPM对界面水研究中易产生扰动的限制,开辟了在大气条件下研究界面水的新道路.本文简述了近年来SPM在二维材料限域水领域的研究进展,包括对限域水结构的成像、动态行为的探测、限域水的纳米操纵,以及限域水对上层二维材料性质的影响等,同时对二维材料限域水SPM研究面临的挑战和未来的研究方向,以及相关的应用前景作了展望.