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摘要:
对目前基于过渡金属硫族化合物(TMD)材料(MoS2、WSe2等)的互补金属氧化物半导体(CMOS)反相器电路相关研究进行了综述.总结了TMD材料的物理性质、制备方法和基于TMD的场效应晶体管器件的研究进展.对基于TMD的集成电路技术研究进行了介绍与分析.分别在结构设计、集成工艺、性能优化及电路集成等方面对基于TMD材料的CMOS反相器电路进行了总结与分析.介绍了两种集成结构及对应的工艺流程,详细分析了CMOS反相器电路性能优化的方法.最后指出了目前的关键挑战及未来的发展趋势.
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文献信息
篇名 基于TMD材料的CMOS反相器电路研究现状
来源期刊 微纳电子技术 学科
关键词 过渡金属硫族化合物(TMD) MoS2 WSe2 场效应晶体管 互补金属氧化物半导体(CMOS)反相器
年,卷(期) 2021,(3) 所属期刊栏目 技术论坛|Technology Forum
研究方向 页码范围 185-195
页数 11页 分类号 TN432
字数 语种 中文
DOI 10.13250/j.cnki.wndz.2021.03.001
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研究主题发展历程
节点文献
过渡金属硫族化合物(TMD)
MoS2
WSe2
场效应晶体管
互补金属氧化物半导体(CMOS)反相器
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
微纳电子技术
月刊
1671-4776
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大16开
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