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深紫外LED封装技术现状与展望
深紫外LED封装技术现状与展望
作者:
彭洋
陈明祥
罗小兵
基本信息来源于合作网站,原文需代理用户跳转至来源网站获取
深紫外LED
封装技术
光效
可靠性
摘要:
深紫外发光二极管(Deep-ultraviolet light-emitting diode,DUV-LED)具有环保无汞、寿命长、功耗低、响应快、结构轻巧等诸多优势,在杀菌消毒、生化检测、医疗健康、隐秘通讯等领域具有重要应用价值.近年来,深紫外LED技术取得了快速发展,主要体现在光效和可靠性的不断提高,这一方面得益于芯片制造过程中氮化物材料外延和掺杂技术的进步,另一方面归功于深紫外LED封装技术的发展.但是,与波长较长的近紫外和蓝光LED相比,深紫外LED的光效和可靠性仍有很大提升空间.本综述重点对深紫外LED封装关键技术进行了系统分析,包括封装材料选择、封装结构设计、封装工艺优化、反射光损耗机制以及结温和热管理等,同时从提高光效与器件可靠性角度阐述了深紫外LED封装的最新研究进展,并对后续技术发展进行了展望.
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文献信息
篇名
深紫外LED封装技术现状与展望
来源期刊
发光学报
学科
关键词
深紫外LED
封装技术
光效
可靠性
年,卷(期)
2021,(4)
所属期刊栏目
发光产业及技术前沿|Luminescence Industry and Technology Frontier
研究方向
页码范围
542-559
页数
18页
分类号
TN312.8
字数
语种
中文
DOI
10.37188/CJL.20200394
五维指标
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深紫外LED
封装技术
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主办单位:
中国物理学会发光分会
中科院长春光机所
出版周期:
月刊
ISSN:
1000-7032
CN:
22-1116/O4
开本:
大16开
出版地:
长春市东南湖大路16号
邮发代号:
12-312
创刊时间:
1970
语种:
chi
出版文献量(篇)
4336
总下载数(次)
7
总被引数(次)
29396
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