扁平连接器线束故障原因分析

• 作者: 肖银河 张明 曾志卫 邓番林
• 来源期刊: 机电元件
• 关键词: 线束连接器 断裂 黄铜 电流 应力腐蚀开裂
• 年，卷（期）: 2021,（3）
• 所属期刊栏目: 试验与检测|Test & Measuring
• 页码范围: 54-57
• 页数: 4页
• 分类号: TN784
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1000-6133.2021.03.016

摘要

针对扁平连接器线束故障中接触不良的问题,使用CT设备、金相显微镜以及扫描电子显微镜、模拟试验等设备与方法,对接触不良线束进行原因分析.结果表明:接触不良的直接原因为线束接触片出现裂纹或断裂导致,属于应力腐蚀开裂(SCC).连接器中的电子流动方向是造成奇偶数位接触片腐蚀状态差异的直接原因.镀镍黄铜表面微裂纹,使黄铜基材裸露于含硫化物的潮湿环境中,为应力腐蚀提供环境因素.