基于分子模拟的PTFE和ePTFE的性能仿真

• 作者: 郭睿 张晋 任翔 何敏
• 来源期刊: 光纤与电缆及其应用技术
• 关键词: 聚四氟乙烯 微孔聚四氟乙烯 分子模拟技术 结晶 陷阱深度
• 年，卷（期）: 2021,（3）
• 所属期刊栏目: 线缆材料|Materials for Wire & Cable
• 页码范围: 1-5,14
• 页数: 6页
• 分类号: TM248
• 语种: 中文
• DOI: 10.19467/j.cnki.1006-1908.2021.03.001

摘要

通过Materials Studio软件建立聚四氟乙烯(PTFE)模型和微孔聚四氟乙烯(ePTFE)界面模型,基于分子动力学理论计算PTFE和ePTFE分子在不同温度下的运动状态,基于密度泛函理论计算PTFE和ePTFE的电子能量,模拟得到PTFE和ePTFE体系的极化强度和陷阱深度.得到结论,ePTFE的分子极化强度要比PTFE的小,并产生界面陷阱.