低压综合配电箱温升影响因素研究

• 作者: 贾晓明 戴建卓 贾勇勇 金心如 韩侃
• 来源期刊: 电工电气
• 关键词: 低压综合配电箱(JP柜) 塑壳断路器 温升试验
• 年，卷（期）: 2021,（5）
• 所属期刊栏目: 产品与应用|Product & Application
• 页码范围: 37-40,51
• 页数: 5页
• 分类号: TM594
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1007-3175.2021.05.008

摘要

通过对低压综合配电箱(JP柜)的质量抽检,发现其温升试验不合格率较高,一旦温升超过限值将影响设备安全稳定运行.对不同供应商的JP柜开展了温升试验,比较了JP柜空间布局、塑壳断路器型号、母排结构尺寸等方面差异,分析了JP柜中塑壳断路器的温升超标原因,对JP柜中塑壳断路器选用及结构优化等方面提出了相关建议.