粒子图像测速技术测量精度影响因素分析

• 作者: 刘兵 崔骊水 李小亭 王毅
• 来源期刊: 计量学报
• 关键词: 计量学 全流场测量法 粒子图像测速 图像处理算法 光流算法
• 年，卷（期）: 2021,（3）
• 页码范围: 346-351
• 页数: 6页
• 分类号: TB937
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1000-1158.2021.03.14

摘要

对基于粒子图像测速(PIV)技术的瞬时全流场测量方法进行了综述.系统介绍了 PIV的工作原理、技术的关键环节(获取图像的品质)和影响测量精度主要因素(示踪粒子性能、光源性能、背景噪声、成像畸变、同步器时间分辨率及图像处理算法).基于这些分析,给出了示踪粒子性能的保障、成像组件的选择以及图像处理方法确定的具体建议.