粉末压片制样-X荧光光谱法测定铬铁矿的主要成分

• 作者: 苏斯燕 张平 黄健强 卜兆杰 陶泽秀
• 来源期刊: 化工机械
• 关键词: 铬铁矿 粉末压片制样 X荧光光谱法 基体效应 粒度影响 精密度
• 年，卷（期）: 2021,（4）
• 所属期刊栏目: 试验研究
• 页码范围: 520-522
• 页数: 3页
• 分类号: TQ050.4
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.0254-6094.2021.04.008

摘要

粉末压片法制样,采用X荧光光谱法(XRF)测定铬铁矿中铬、磷、硅、锰元素的含量.对基体效应进行了校正,对样品的粒度影响和曲线参数进行了优化.精密度试验结果表明,待测元素的相对标准偏差均低于3.10％,XRF精密度良好,制样及分析数据重现性良好.