高速永磁屏蔽电机损耗分析与温升研究

• 作者: 曹力 胡岩 卓亮
• 来源期刊: 微电机
• 关键词: 高速永磁屏蔽电机 有限元 损耗计算 温升分析
• 年，卷（期）: 2021,（4）
• 所属期刊栏目: 设计与研究
• 页码范围: 11-15,31
• 页数: 6页
• 分类号: TM355
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1001-6848.2021.04.003

摘要

损耗是影响电机效率和发热的重要因素,定子屏蔽护套作为高速永磁屏蔽电机损耗的主要来源,合理的设计是保证电机可靠安全运行的关键.本文基于有限元模型计算分析电机定子屏蔽护套的涡流损耗以及电机温升分布,并对屏蔽护套损耗敏感性因素进行研究;通过样机试验分离出定子屏蔽护套涡流损耗.试验与理论分析结果基本一致,验证本文所建立的高速永磁屏蔽电机有限元模型的正确性,对今后屏蔽电机的分析、设计具有理论指导意义.