G.652.D光纤谱衰减模型的构建与研究

• 作者: 周辉智 熊涛 王冬香 祁庆庆 胡古月 喻煌 刘骋
• 来源期刊: 现代传输
• 关键词: 谱衰减模型 衰减谱 G.652.D光纤
• 年，卷（期）: 2021,（4）
• 所属期刊栏目: 电缆及光缆
• 页码范围: 35-39
• 页数: 5页
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1673-5137.2021.04.001

摘要

谱衰减模型法作为GB/T 15972.40中B类光纤衰减的替代测试方法,并未得到广泛应用.我司收集181盘不同厂家的G.652.D光纤,利用PK2200分别测试出181盘光纤的衰减谱数据,利用181盘数据构建出多个谱衰减模型矩阵,并对构建出的矩阵进行了精度分析.实验结果表明,利用181盘光纤构建的谱衰减模型精度较高,由1310nm、1383nm、1550nm、1625nmnm矩阵的精度最高,适宜在商业环境中使用.