一起10 kV柱上真空断路器故障的解体分析

• 作者: 李通 李顺尧 黎浩钧
• 来源期刊: 电工电气
• 年，卷（期）: 2021,（3）
• 所属期刊栏目: 信息与交流
• 页码范围: 70-71
• 页数: 2页
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1007-3175.2021.03.014

摘要

0 引言 10 k V柱上开关应用在配网线路的分段、联络等位置,为提升电网的供电可靠性作出了重要贡献.真空断路器由于其结构简单、性能可靠等优点在配网线路中广泛应用.但是柱上开关的生产厂家众多,竞争激烈,企业为了追求个人利益,往往以牺牲产品质量为代价.虽然这些设备能够通过型式试验、出厂试验等,但是由于材料不合格等因素,在长期的并网运行中会逐渐裂化,使用寿命大大缩短,甚至引发停电事故,影响供电可靠性.