30～160 keV单能X射线装置的单色性实验研究

• 作者: 王二彦 蒋政 郭思明 吴金杰 杨强 周鹏跃 宋瑞强
• 来源期刊: 计量学报
• 关键词: 计量学 单能X射线 能量分辨率 高纯锗探测器 双晶单色器
• 年，卷（期）: 2021,（5）
• 页码范围: 645-649
• 页数: 5页
• 分类号: TB98
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1000-1158.2021.05.16

摘要

单能X射线光源是由X射线光机、双晶单色器、标准探测器以及准直系统组成.X射线光机产生的连续X射线,通过与双晶单色器发生布拉格衍射完成单色化,调节不同的特定布拉格角度得到能量范围30～160 keV的单能X射线.为了研究标定装置的能量展宽,需要对该装置产生的单能X射线的能量分辨率进行研究.结果 表明Si(220)晶体产生的单能X射线的能量分辨率为0.91％@30 keV和2.3％@70.6 keV,Si(551)晶体为1.97％@80.1 keV和3.45％@142.6 keV.使用这套装置对溴化镧晶体探测器的能量响应进行校准验证,实验发现该装置的能量分辨率良好,可以应用在多种类型探测器的标定实验、X射线质量衰减系数测量以及多层膜反射率测量等领域.