ZnO压敏电阻直流老化特性的研究

• 作者: 黄海博 孙伟 万翔 姚学玲
• 来源期刊: 电瓷避雷器
• 关键词: ZnO压敏电阻 荷电率 温度 泄漏电流 功率损耗 老化
• 年，卷（期）: 2021,（4）
• 所属期刊栏目: 避雷器|Surge Arresters
• 页码范围: 22-29
• 页数: 8页
• 语种: 中文
• DOI: 10.16188/j.isa.1003-8337.2021.04.004

摘要

ZnO压敏电阻是电子和信息化领域重要的过电压防护器件,对电子与通信系统的运行安全有着至关重要的作用.本研究基于压敏电阻直流老化特性实验平台,开展了热电应力下ZnO压敏电阻温度特性、荷电率特性以及长期直流电压下老化特性的变化规律研究.实验与分析结果证明:1)在电应力与热应力作用下,ZnO压敏电阻的泄漏电流和功率损耗随着荷电率增大而增大;2)同一型号压敏电阻在同温度(115℃),不同荷电率下两组直流老化实验,泄漏电流曲线经历了快速上升、缓慢下降至平稳、激增3个变化阶段,两组老化时间存在较大差异;3)压敏电阻长时间直流老化实验中,10 K 250压敏电阻片在97％荷电率和145℃温度条件下,历经264 h的老化过程,其压敏电阻泄漏电流、功率损耗的急剧增长,压敏电压、非线性系数、漏电流发生显著的变化.因此,传统意义上将压敏电压值降为初始值的10％作为老化实验寿命终结判据对于直流老化来说需要进一步研究.