GIS中金属微粒诱发沿面局部放电发展过程的研究

• 作者: 陈予伦 常丁戈 杨鼎革 张冠军
• 来源期刊: 电力工程技术
• 关键词: 气体绝缘全封闭组合电器(GIS) 金属微粒缺陷 局部放电 沿面放电 盆式绝缘子
• 年，卷（期）: 2021,（3）
• 所属期刊栏目: 电机与电器|Electrical Machines and Apparatus
• 页码范围: 153-158
• 页数: 6页
• 分类号: TM855
• 语种: 中文
• DOI: 10.12158/j.2096-3203.2021.03.023

摘要

局部放电的检测和识别对气体绝缘全封闭组合电器(GIS)运行状况的监测起着至关重要的作用.金属微 粒缺陷是一种极易引发GIS局部放电的典型缺陷.文中主要研究金属微粒诱发的GIS内局部放电沿面爬电的发 展过程.为此,根据GIS实际运行条件,搭建GIS模拟实验平台,采用阶梯升压法划分试验阶段,利用脉冲电流法 检测各阶段下的局部放电模式,与此同时架设增强型电荷耦合检测器相机(ICCD)实时记录金属微粒局部放电的沿面发展过程,并采用K-Means聚类算法结合特征参量对其发展过程进行划分.结果表明GIS盆式绝缘子上金属微粒的沿面局部放电演变过程分为3个阶段:电晕放电主导阶段、电晕与流注放电并存阶段和流注放电主导阶段.