厚度对纳米晶软磁合金带材自由面结构的影响

• 作者: 丁昂 郝洁 黄敬晖 张延松 黄辉 李孟勇
• 来源期刊: 稀有金属
• 关键词: 非晶带材 结构 纳米晶 厚度
• 年，卷（期）: 2021,（8）
• 所属期刊栏目: 研究论文|Papers
• 页码范围: 936-943
• 页数: 8页
• 分类号: TG132.2+71
• 语种: 中文
• DOI: 10.13373/j.cnki.cjrm.XY19080012

摘要

采用斜喷工艺制备4种厚度的Fe73Ni1Cu1Nb3Si13B9非晶带材,并进行了真空晶化退火,用扫描电镜(SEM)和原子力显微镜(AFM)分析了晶化退火前后带材自由面结构变化情况,研究结果表明制备态带材的表面平整度、表观缺陷都能达到应用要求,随着带材厚度降低,带材自由面表观平整度随之提高,表观缺陷也随之减少.晶化退火后,随内应力的消除,非晶带材的表观平整度进一步提高,但随着厚度减小,晶化后磁畴结构展现越加明显,柱状磁畴变得更加细小而均匀,同时伴随无取向的非晶态结构向晶态结构转变.而AFM观察结果表明晶化退火后,由于晶化析出物的长大导致带材自由面的微观平整度降低,并随着带材厚度降低,晶化过程越完全,αFe(Si)晶粒析晶数量随之增加,而尺寸随之减小,此时外磁场对多晶磁畴的影响就越大,进而会展现出磁导率的提升和矫顽力的降低等特性改变,结果也进一步说明随着带材厚度减小,晶化时间可以随之缩短或晶化温度随之降低.