降低ZnO电阻片在高能量冲击下侧面釉裂纹的探究

• 作者: 田冰 厍海波 朱成洋 刘扬帆 马飞
• 来源期刊: 电瓷避雷器
• 关键词: 高能量冲击 侧面釉 裂纹 膨胀性
• 年，卷（期）: 2021,（4）
• 所属期刊栏目: 避雷器|Surge Arresters
• 页码范围: 118-121,139
• 页数: 5页
• 语种: 中文
• DOI: 10.16188/j.isa.1003-8337.2021.04.019

摘要

为解决ZnO电阻片在高能量冲击下侧面釉出现裂纹的现象,通过掺杂调整无机高阻层的绝缘及发热性能,降低侧面局部膨胀性.结果表明:高阻层采用配方与本体接近的原材料,Bi2 O3-Sb2 O3-MnO2-Ni2 O3系统,掺杂ZrO2、PM-10硼酸锌玻璃,绝缘性较好,大电流冲击时发热较小,膨胀也较小,侧面的有机釉经受的张应力也减小,降低了高能量冲击下侧面釉层的裂纹现象.